Home / Ultimas Noticias
Archivo Noticias de la Ciencia y la
Tecnología.
Archivo Noticias del Espacio
Contacto
Suscripciones (público/email)
Boletín Noticias de la Ciencia y la
Tecnología
Boletín Noticias del Espacio
Boletín Noticias de la Ciencia y la
Tecnología Plus
Suscripciones (servicios a
medios)
Reproducción de contenidos en medios
comerciales
|
Recuerda:
suscríbete a nuestros boletines gratuitos y recibe cómoda y
semanalmente las noticias en tu dirección electrónica.
Nanotecnología
Rompiendo la Barrera de la Resolución Nanométrica
en los Rayos X
16
de
Noviembre de 2007.
Un
equipo de investigadores del Laboratorio Nacional de Brookhaven ha
superado un obstáculo fundamental para usar las lentes refractivas en el
enfoque de los rayos X. Este método permitirá un enfoque eficiente de
los mismos hasta puntos sumamente pequeños y constituye un
descubrimiento importante para el desarrollo de una nueva fuente de luz.
La tecnología permitirá lograr avances en la nanociencia, la energía, la
biología y la investigación sobre materiales.
Menéame
Estos científicos excedieron un límite muy importante en la capacidad de
enfocar los rayos X "duros" o de alta energía, conocido como el "ángulo
crítico".
El ángulo crítico es el ángulo límite al que la luz puede desviarse por
medio de una superficie única. Imagine un haz de láser que viaja hacia
una lente de vidrio. Dependiendo de las características del material de
la lente y el ángulo con que es dirigido el haz, la luz puede
refractarse, es decir, transmitirse a través de la lente pero desviada.
Sin embargo, cuando este haz de luz se aproxima a la lente con ángulos
menores que el ángulo crítico, el haz no pasa a través de la lente sino
que en vez de eso se refleja.
El ángulo límite para la desviación determina el tamaño más pequeño de
los puntos a los cuales pueden ser enfocados los rayos X. Ello acarrea
un problema para los investigadores que utilizan los rayos X para
estudiar moléculas, átomos y materiales avanzados a escala nanométrica.
Estos objetos tan diminutos requieren de haces finamente enfocados.
Los investigadores han demostrado que el ángulo crítico puede superarse
con los rayos X de alta potencia. Gracias a los excelentes recursos del
Centro para los Nanomateriales Funcionales del Laboratorio de
Brookhaven, y a los de Alcatel-Lucent, pudieron fabricar las lentes
especiales con la precisión requerida.
Éste es un paso importante debido a la creciente necesidad de analizar
materiales y moléculas mediante rayos X con una alta resolución capaz de
llegar a un nanómetro. Esa capacidad se necesita para estudiar los
intrincados mecanismos de los sistemas químicos y biológicos.
Sin exceder el ángulo crítico, la resolución de la lente refractiva se
limitaría a 24 nanómetros o más. Aunque en este experimento los
investigadores sólo han conseguido sobrepasar un poco este límite, han
demostrado que puede lograrse. Éste es simplemente el primer paso.
En el futuro, los investigadores continuarán fabricando y probando
sistemas ópticos que permitan ir mucho más allá del ángulo crítico y más
cerca de esa meta de 1 nanómetro.
Información adicional en:
|